Microscopia eletrônica de varredura de alta resolução (MEV-FEG)

Jeol JSM-7100F

Microscópio eletrônico de varredura JEOL JSM 7100-F

Feixe eletrônico por emissão de campo (FEG)
Resolução de 1,2 nm a 30kV e 2,0 nm a 1.0kV
Diferentes configurações de detectores de elétrons secundários e retroespalhados
Detectores Oxford EDS e WDS
Detector STEM

Mineral

Nanopartículas de sílica

Tecido cardíaco

Cristais de ZnO

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